Металловедение пайки
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 234 235 236 237 238 239 240... 262 263 264
|
|
|
|
рентгеновских лучей, возбуждаемых в образце при его бомбардировке быстролетящими электронами. Путем разложения излучения в спектр и определения интенсивности спектральных линий можно определить качественный и количественный состав в анализируемой точке. Освоенные промышленностью и выпускаемые серийно приборы МАР-1 и МАР-2 (СССР), MS-46 (Франция), JXA-3 (Япония) и др. имеют минимальный размер зонда около 0,1 мкм. Электроннооптические схемы всех приборов схожи [12]. Анализировать с применением рентгеноспектрального анализа можно элементы начиная с магния, а на некоторых установках —с бериллия. Разрешающая способность метода: при количественном анализе—2 мкм, при качественном — десятые доли микрона. Микроанализаторы, работающие в режиме сканирования (обегания заданной площади), могут быть использованы как приборы для подсчета числа неметаллических включений, определения их размера и идентификации. Качественный состав, исследуемого образца находят по таблице в зависимости от интенсивности. Количественный состав определяют сравнением интенсивности излучения от образца и эталона. Для получения надежных данных необходимо учитывать взаимодействие характеристического рентгеновского излучения с материалом образца. В первом приближении концентрация элемента А в сплаве (Са) определяется отношением интенсивности излучения от образца /^д и /^^ чистого элемента: /Л С^=-^100%.(ПО) Ошибка метода может составлять от 3—5 (при определении марганца в железе) до 50—100% (при определении алюминия в железе). Для получения более точных результатов следует учитывать влияние поглощения излучения в материале образца, зависимость поперечного сечения ионизации от энергии электрона, ионизации флуоресценции. В общем виде концентрация элемента в пробе определяется по формуле [13] 237
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 234 235 236 237 238 239 240... 262 263 264
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
