Металловедение пайки
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 233 234 235 236 237 238 239... 262 263 264
|
|
|
|
мым для снятия реплик веществом. Лаковые пленки дают возможность иметь разрешающую способность 200— эо 500 А, а платино-углеродные реплики —10—20 А [4,5]. Проведенные исследования структур паяных швов электронномикроскопическим способом [6,7] позволяют обнаружить наличие микроскопических образований, определяющих комплекс свойств паяных соединений, в зависимости от тонкой структуры зон паяного шва. Ионная микроскопия. Метод исследований с помощью ионного микроскопа позволяет обеспечить разрешающую способность выше, чем электронная микроскопия (10 А). Ионный проектор дает возможность наблюдать отдельные атомы матрицы и примесей, вакансии в решетке и межузельные атомы; атомную структуру границ зерен; структуру ядра дислокации; эффект легирования (упорядочение, разупорядочение твердых растворов) [4]. Рентгеноструктурный анализ. В основе метода лежит различная способность элементов поглощать монохроматическое рентгеновское излучение [8,9]. Рентгеноструктурный анализ позволяет определить тип структуры и параметры решетки, размеры кристаллов, их ориентировку, наличие микродефектов и неметаллических включений, которые нельзя обнаружить обычными методами рентгеновской дефектоскопии. Созданы установки для локального рентгеноструктур-ного анализа с использованием острофокусной рентгеновской трубки. Разрешающая способность при этом повышается до 40—50 мкм [10]. Применительно к исследованию структуры и свойств паяных соединений, учитывая особенности геометрии паяных швов, рентгеноструктурный анализ имеет невысокую чувствительность и точность. Микрорентгеноспектральный анализ Микрорентгеноспектральный анализ позволяет получать данные о микрохимической неоднородности материалов. Он определяет ориентировку монокристаллов и па О раметры решетки с точностью до 0,00002 А. Чувствительность метода до 10-^' г [11]. В основу метода положено использование спектра 236
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 233 234 235 236 237 238 239... 262 263 264
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
