Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками






Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .



Страницы: 1 2 3... 93 94 95 96 97 98 99... 423 424 425
 

Рис4,4. Профили концентрации ирп твердой фазах на различных стадиях затвердевания. В расчетах приняты значения ^^^0,1; и^2 м/с; — ^10-^ cmVc [27]: Ж ЖИДКОСТЬ; ТТ — твердое тело д... j \ УС 1и. ^1 Г-¥5нс f=50HC WOQO нечных разностях в предположении постоянства величины ife^ Как видно из рис. 4.4, примеси отражаются от поверхности затвердевания и накапливаются до высоких концентраций в жидкости у гранты раздела. Затвердевание последнего слоя расплава приводит к появлению окончательного пика концентрации у иоверхиости. Въшолияя подобные расчеты при варьировании значений k' и сравнивая расчетные профили концентрации примеси в твердой фазе с экспериментально полученными распределениями, можно определить значения k\ удовлетворяющие условиям кристаллизации при таких высоких скоростях, пример подобного сравнения для случая распределения мышьяка в кремнии представлен на рис. 4.5 [10]. Как следует из данных метода обратного резерфордовского рассеяния и ионного каналирования, после лазерного отжига мышьяк образует более 95% узлов замещения в кристаллической решетке, хотя его котхентранпя C^^As) в приповерхностном слое превышает предел растворимости в твердой фазе в 4 раза. Это подтверждает образование пересыщенного сплава в результате процесса эпитаксиальной Перекристаллизации, протекающего с высокой скоростью в жидкой фазе. Сплошной кривой 3 на рис. 4.5 показан профиль концентраций, рассчитанный в предположении, что коэффиаиент распределения 1,0. Согласие между расчетом и экспериментальными данными {2), полученными после лазерного отжига, является превосходным. Полученное для значение существенно превышает равновесную величину (/^'^0,3). Увеличеме коэффициента распределения в сравнении с равновесной величиной является следствием высокой скорости кристаллизации, при которой происходит отклонение от условий локального равновесия на границе раздела фаз при затвердевании. Отсутствие признаков сегрегации мышьяка У поверхности является дополнительным свидетельством того, что величина k' должна быть очень близка к единице. На ряс. 4.6 приведены подобные же результаты для распределения индия в кремнии. Окончательный дик концентрации у поверхности после лазерного отжига свидетельствует о том^ что величина много меньше единицы. Индий, остающийся в объеме кристалла после лазерного отжига, более чем на 90% образует фазу замещения в кристаллической решетке (что подтверждается данными ионного каналирования), даже если его концентрация 95
rss
Карта
 






Страницы: 1 2 3... 93 94 95 96 97 98 99... 423 424 425

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу


Расчеты тепловых процессов при сварке
Сборка и сварка корпусов судов
Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник
Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Металловедение пайки
Теорія зварювальних процесів. Дослідження фізико-хімічних і металургійних процесів та здатності металів до зварювання
Справочник по сварке цветных металлов

rss
Карта