Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 84 85 86 87 88 89 90... 423 424 425
|
|
|
|
(100) и (111) никеля, облученного перекрывающимися пятнами неодимового лазера на иттриево-алюминиевом гранате с модулированной добротностью. Кристаллы вырезались из одного и того же искусственного рубина. Наблюдения в контрастном интерференционном микроскопе Номарского отчетливо показали следы поверхностного плавления. Высокая скорость деканалирования в приповерхностной области указывает на большую плотность протяженных дефектов. Более высокая плотность дефектов наблюдается для кристаллов с ориентацией 111. Сходные результаты получены также при облучении обычным импульсом рубинового лазера с модулированной добротностью. На рис. 3.17 показано различие в спектрах каналирования, полученных с облученной поверхности (ПО) при плотности мощности пучка 25 МВт/см^ (плавление отсутствует) и при оплавлении пучками с плотностью мощности 35 и 65 МВт/см^ [43]. Для обнаружения оплавления поверхности на нее осаждалась пленка серебра толщиной 10 А. При плотности мощности 25 МВт/см^ серебро оставалось на поверхности, так как плавления образца не происходило. При использовании пучков с плотностью мощности 35 и 65 МВт/см2 серебро проникало в никель на глубину в несколько тысяч ангстрем. Столь глубокое проникновение можно объяснить только оплавлением поверхностного слоя. Увеличение выхода обратно рассеянных ионов с ростом мощности импульса свидетельствует о возрастании плотности дефектов. Природа дефектов, обнаруженных при каналировании, изучалась с применением просвечивающего электронного микроскопа [44]. На рис. 3.18, а и б приведены микрофотографии облученного лазером кристалла никеля с ориентацией 100). Спектры каналирования этих образцов показаны на рис. 3.16. Основным дефектом строения являются дислокационные сетки с двумя характерными размерами ячеек плотностью дислокаций ^10^^... 10^^ см^^. Наблюдение в просвечивающем электронном микроскопе кристалла с ориентацией (111) обнаруживает однородную дислокационную сетку с плотностью дислокаций, значительно большей, чем для кристалла с ориентацией (100). Анализ поперечных шлифов облученных лазером кристаллов никеля в просвечивающем электронном микроскопе показал наличие скольжения дислокаций. Очень высокие плотности дислокаций, обнаруженные в облученном лазером никеле, можно объяснить, исходя из представле-лений о пластической деформации при быстром термоциклирова-нии. Высокоскоростной нагрев и охлаждение приводят к большим температурным градиентам. Большие градиенты вызывают термомеханические напряжения, а те, в свою очередь, — пластическую деформацию за счет движения и размножения дислокаций. Наблюдаемая в ряде случаев ячеистая дислокационная структура характерна для деформации металлов. Деформация поликристаллов характеризуется сильной ориентационной зависимостью, а расположение дислокаций после деформации сходно с наблюдавшимся в 86
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 84 85 86 87 88 89 90... 423 424 425
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
