Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 54 55 56 57 58 59 60... 423 424 425
|
|
|
|
19.Auston D. H., Surko C. M., Venkatesan T. N., Slusher R. E., Golovchenko J. A. (1978), Appl. Phys. Lett. 33, 437. 20.Auston D. H., Surko C. M., Venkatesan T. N., Slusher R. E., Golovchenko J. A. (1979), Appl. Phys. Lett. 35, 635. 21.Nathan M, L, Hodgson R. Т., Yoffa E. J. (1980), Appl. Phys. Lett. 36. 512. 22.Lo H. W., Compaan A. (1980), Phys. Rev. Lett. 44, 1604. 23.Compaan A. A., Audiuli H. W., Lo, Lee M. C. In: "Laser and Electron Beams Interaction with Solids". Eds. B. R. Appleton, G. K. Celler, North-Holland, N. Y. 1982. 24.Stritzker S., Pospieszcyk P., Tagle J. A. (1981), Phys. Rev. Lett. 47, 356. 25.Larson B. C, White C. W., Noggle T. S., Mills D. (1982), Phys. Rev. Lett. 48, 337 26.Liu'j. M., Yen R., Kurz H., Blombergen N. (1981), Appl. Phys. Lett. 39, 755. 27.Baeri P., Campisano S. U. (1982), Chapter 4. In: "Laser Annealing of Semi-conductors". Eds. J. M. Poate, J. W. Mayer, Academic Press, N. Y. 28.Bloembergen N. (1979). In: "Laser-Solid Interactions and Laser Processing". Eds. S. D. Ferris, H. J, Leamy, J. M. Poate (American Institute of Physics,, No, 50), p. 1. 29.Spaepen F., Turnbull D. (1979). In: "Laser-Solid Interaction and Laser Pro-cessing", Eds. S, D. Ferris, H. J. Leamy, J. M. Poate. American Institute of Physics, No. 50, p. 73. 30.Bagley B. G., Chen H. S. (1979). In: "Laser-Solid Interaction and Laser Pro-cessing;. Eds. S. D. Ferris, H. J. Leamy. J. M. Poate, American Institute of Physics, No. 50, p. 97. 31.Baeri P., Foti G., Poate J. M., Cullis A. G. (1980), Phys. Rev. Lett. 45, 2030. 32.Baeri P. (1982), "Computer Modeling of Laser Annealing". In: ^Laser and Electron Beam Interaction with Solids". Eds. B. R. Appleton, G. K. Celler,. Elsevier North-Holland, p. 52. 33.Brice J. C. (1963), Solid State Electronics, 6, 673. 34.Fair R. B. (1979), J. Appl. Phys., 50, 6552. 35.Wolfe W. L. (1965), "Handbook of Military Infrared Technology^, U. S. Government Printing Office, Washington. 36.Wampler W. R., Follstaedt D. M., Peercy P. S. (1981). In: "Laser and Electron Beam Solid Interactions and Material Processing". Eds. J. F. Gibbons,. L. Hess, T. Sigmon, North-Holland, p. 567. 37.Dona dalle Rose L. F., Miotello A. (1980), Rad. Eff. 53, 7. 38.Delia Mea G,, Dona dalle Rose L. F., Mazzoldi P., Miotello A., (1980), Rad. Eff. 46, 133. 39.Pronko P. P., Wiedersich H., Seshan K., Helling A. L., Lograsso T. A., Baldo P. M. (1981). In: "Laser and Electron Beam Solid Interactions and Materials Processing". Eds. J. F. Gibbons, L. Hess, T. Sigmon, North-Holland p. 599. 40.Draper C. W. (1981). In: "Lasers in Metallurgy^. Eds, K. Mukheriee, J. Ma-zumder. TMS-AIME, Warrendale. 41.von Ailmen M. F., Lau S. S. (1982). In: "Laser Annealing or Semiconduc-tors". Eds. J. M. Poate, J. W. Mayer. Chapter 12. Academic Press, N. Y. 42.Musal H. M., Jr. (1980). In: "Laser Induced Damage in Optical Materials", NBS-568, Issued July 1980, p. 159. 43.Follstaedt D. M., Picraux S. Т., Peercy P. S., Wampler W. R. (1981), Appl. Phys. Lett. 39 (4), 327. 44.Greenwald A. C, Kirkpatrik A. R., Little R. G., Minnucci J. A. (1979), J. Appl. Phys., 50, 783. 45.Wampler W. R., Follstaedt D. M., Picraux S. T. (1980), Appl. Phys. Lett. 36, 366. 46.Bishop H. E. (1974), ^Quantitative Scanning Electron Microscopy^. Eds. D. B. Holts et al. Academic Press, N. Y. Chapter 2. 47.Spencer L. V, (1958), NBS, Energy Dissipation by Fast Electrons. Govenment Printing Office, Washington. 48.Sternglass E. J. (1954), Phys. Rev. 95, 345. 56
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 54 55 56 57 58 59 60... 423 424 425
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
