Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками






Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .



Страницы: 1 2 3... 51 52 53 54 55 56 57... 423 424 425
 

2.5. Облучение материалов ионными пучками 2.5,1. Ввод энергии Импульсный моноэнергетический пучок частиц также можно использовать для ввода энергии в поверхностный слой мишени За короткое время и при подходящих условиях можно расплавить поверхностный слой [54]. К настоящему времени нагрев нощ^і^іми пучками рассмотрен только в нескольких работах, что обусловлено трудностью в получении подходящих параметров импульсных пучков. Ионы теряют энергию как на электронах, так и на ядрах. Относительный вклад этих механизмов в общие потери энергии зависит от скорости иона, атомного номера и массы налетающей частицы и вещества мишени. Для протонов эти механизмы потерь имеют одинаковую величину при энергии 10 кэВ. Для ионов мышьяка в кремнии они одинаковы при 750 кэВ. Тормозные способности ионов в любой мишени извест-цы, так что зависимости глубины от дозы могут быть опред^дены с достаточно хорошей точностью. Для случая протонов в кре\ї{іие-вой мишени используется следующее выражение [55]: —^=4,15^1/2 эВ/1015 см-2 для £'10 кэВ; аі5а) 10 15 2,0 2,5 1^ ним Рис. 2.28. Профиль потерь энергии протонов (с энергией ЗОо кэВ) в кремнии In 1+ 550 -0,0132^ -1 е^ \ МэВ. (2.156) Потери энергии для протонного пучка с энергией 300 кэВ в кремнии в зависимости от глубины приведены на рис. 2.28. Введенная энергия довольно равномерно распределяется по объему образца до глубин, достигающих пробега частиц 2,5 мкм. 2.5.2. Нагрев и охлаждение Процессы нагрева и охлаждения рассматриваются обычНым способом. Можно предположить, что в результате равномерного распределения введенной энергии температурные градиенты Во время нагрева и охлаждения будут ниже, чем в случае электронного облучения. Для примера на рис. 2.29 приведены зависимости температуры от глубины при облучений кристаллического крелдния 53
rss
Карта
 






Страницы: 1 2 3... 51 52 53 54 55 56 57... 423 424 425

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу


Расчеты тепловых процессов при сварке
Сборка и сварка корпусов судов
Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник
Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Металловедение пайки
Теорія зварювальних процесів. Дослідження фізико-хімічних і металургійних процесів та здатності металів до зварювання
Справочник по сварке цветных металлов

rss
Карта