Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками






Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .



Страницы: 1 2 3... 418 419 420 421 422 423 424 425
 

Рис. 13.12. Картина селективной рентгеновской дифракции поверхности сплава Си—Zr, полученного лазернымлегированием. В данной области образца существуют как аморфная, так и поликристаллическая фаза. Около поверхности существует только стеклообразная фаза Образование стеклообразного состояния в системе цирконий — никель также было подтверждено рентгеновской дифракцией скользящим пучком. Данные резерфордовского обратного рассеяния и каналирования свидетельствуют о совершенно ином поведении никеля, чем в случаях, описанных выше в этой главе. Общий и каналированный спектры (рис. 13.13) совпадают до глубины 2500 А (250 нм), свидетельствуя о толщине образующегося аморфного поверхностного слоя. Присутствие циркония обнаруживается, однако, на много больших глубинах. Концентрация циркония, при которой сохраняется кристаллическая решетка никеля, составляет 33%, что согласуется с оценкой для предельной концентрации, необходи Рис. 13.13. Спектры резерфордовского обратного рассеяния и каналирования для пленки о циркония толщиной 2000 А на кристалле 110 никеля после обработки Nd —АИГ-лазером с удвоением частоты и модулированной добротностью (40 мВт/см^), Концентрация циркония достигает максимума у поверхности, спадая за о тем до глубин 8000 А. Каналирования для циркония не обнарул^ено. У никеля разупо-рядочивание обнаруживается о ДО глубины 2500 А, а ниже подложка остается монокри-еталлической; на данной глубине концентрации Zr составляет 33%: / — общий спектр; 2 — спектр для ориентации U0 0,7 0,8 '0,9 10 и 17 и 1М 15 Е,МэВ 419
rss
Карта
 






Страницы: 1 2 3... 418 419 420 421 422 423 424 425

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу


Расчеты тепловых процессов при сварке
Сборка и сварка корпусов судов
Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник
Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Металловедение пайки
Теорія зварювальних процесів. Дослідження фізико-хімічних і металургійних процесів та здатності металів до зварювання
Справочник по сварке цветных металлов

rss
Карта