Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 396 397 398 399 400 401 402... 423 424 425
|
|
|
|
12.9.4. Аморфные сплавы Fe—Ті—С Третий, и последний, пример использования имплантации в фундаментальных исследованиях сплавов связан с аморфными композициями Fe—Ті—С, в частности, с ролью углерода, в стабилизации разупорядоченного состояния. Это исследование было выполнено Фольшгадтом, Кнаппом, Пикро к Зингером [23, 153] и его причиной отчасти было наблюдаемое улучшение механических свойств некоторых сталей после имплантации в них титана и углерода [18, 23]. В зкслериментах осуществлялась имплантация титана и углерода в монокристалл железа при комнатной температуре с последующим просвечивающим электронно-микроскопическим анализом, анализом методами обратного ионного рассеяния н каналирования, а также Оже-спектроскопией. Существование аморфного слоя в железе после имплантации было продемонстрировано электронными диффрактограммами, подобными показанной на рис. 12.35, на котором видны диффузные кольца, характерные для неупорядоченных структур. В указанном частном случае имплантировался титан при энергии 90...190 кэВ и общей дозе ионов 2-10^^ см-'^, что давало в результате концентрацию примерно 20% в слое от поверхности до глубины около 700 А (70 нм). Затем в тот же слой имплантировали углерод с дозой облучения, равной 2' 10^^ см~^. Рис. 12.35. Электронная дифрактограмма и соответствующий график оптической плотности D для железа, имплантированного титаном и углеродом [153] Рис. 12.36, Спектры каналированного обратного рассеяния 1^об рас для же-ле^а Fe ООО, имплантированного титаном и углеродом: і ^ доза имт\ л актированных ионов Ті I'lO^^при энергии Ї80 кэВ; —тот же образец с добавочной дозой С 5*1016 сМ-2 при Энергии 50 кэВ; 3 — тот же образец со второй добавочной дозой С S-lO^s см~2 эяергйи 30 кэВ; 4 — общий спектр 398
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 396 397 398 399 400 401 402... 423 424 425
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
