Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 323 324 325 326 327 328 329... 423 424 425
|
|
|
|
► Затем ^ II і^^П 50нс Рис. 11.21. Электронно-микроскопический анализ образцов алюминия, имплантированных никелем и обработанных импульсным электронным пучком (ИЭП): а — поперечное сечение утоненного образца; 6 — электронограмма (черные стрелки указывают колы;а от выделений AlNi, белые — диффузное кольцо от аморфной фазы Al(Ni). точечные рефлексы относятся к алюминиевой подложке); в — светлопольное изображение й микрофотография выделений AlNi; ЯОЛ — окисел алюминия на поверхности; ЭЯЯ —электролитически полированная поверхность При разупорядочивающем влиянии ионной бомбардировки. Кроме этого, при имплантации образуется гораздо большее число дефектов (10—30 смеш^ений на атом в данном случае), которые могут быть существенными. Эта область весьма интересна для исследований с применением методов, чувствительных к ближнему порядку. 11*-1241325
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 323 324 325 326 327 328 329... 423 424 425
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
|
|
|
