Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник






Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .



Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 212 213 214
 

22 розділяє пучок променів на дві частини, забезпечуючи бінокулярне спостереження. Промені, відбиті від нахилених до оптичної осі мікроскопа ділянок поверхні, не потрапляють в об'єктив. Тому в полі зору окуляра нахилені ділянки є темними, перпендикулярні світлими. Так формується зображення структури, темними елементами якої є мікротріщини, пори, границі зерен, неметалеві виділення, сірими рельєфні перпендикулярні до оптичної осі ділянки, світлими гладкі перпендикулярні до осі ділянки. Спостереження в темному попі дає обернене (негативне) зображення структури супроти структури, отриманої в світлому полі. Елементи структури, які в світлому полі виглядають темними, при спостереженні в темному полі стають світлими, і навпаки. Пластинку 14, лінзу б і діафрагму 7 заміняють кільцевою діафрагмою 5, центральна зона якої екранована. Світло проходить через неї, відбивається від кільцевого дзеркала 75 і, минаючи об'єктив 76, потрапляє на параболічний конденсор 77, який збирає його в пучок і скеровує на поверхню мікрошліфа 18. Після відбивання від поверхні світло проходить через об'єктив 16 і потрапляє в окуляр 9. Оскільки в об'єктив потрапляють лише промені, відбиті від нахилених поверхонь, рельєфні ділянки структури виглядають світлими, а гладкі перпендикулярні до осі темними. Спостереження в поляризованому світлі дає змогу розрізняти оптично анізотропні складники структури. Для одержання поляризованого світла за конденсором 2 розташовують поляризатор 5, а перед окуляром аналізатор ІЗ. Дослідження в поляризованому світлі можна виконувати двояко: -використання лише поляризатора уможливлює ідентифікування фаз із анізотропними оптичними властивостями, оскільки поляризоване світло неоднаково поглинається їхніми поверхнями залежно від напрямку падіння. Тому обертання столика з мікрошліфом змінюватиме колір і яскравість зображення цих фаз; -поляризатор і аналізатор виставляються так, щоб напрямки світлових коливань взаємно перехрещувалися. Плоскополяризований промінь, відбитий від ізотропної поверхні, є також плоскополяризований і обертанням аналізатора може бути погашений. Якщо поверхня анізотропна, то відбитий промінь поляризується еліптично і аналізатор не може його погасити. Отже, ізотропні ділянки структури будуть темними, натомість анізотропні з обертанням аналізатора періодично змінюватимуть яскравість. Конструкція мікроскопа. Предметний столик ЗО закріпляється на основі 33 мікроскопа гвинтом 32 (рис. 2.7.2). Його повздовжнє переміщення здійснюють ручкою 36, а поперечне ручкою 35, які розташовані на одній осі. Мікрошліф закріпляють на столику пружинними притискачами 29. Обертають столик ручками ЗІ і фіксують гвинтом 37. На штативі 19 закріплений тубус 27, грубе переміщення якого у вертикальному напрямку для фокусування зображення здійснюють ручкою 42, а тонке мікрометричне ручкою 43. Оптична довжина тубуса 200 мм. У паз тубуса вставляється аналізатор, який може повертатись в межах від 0^ до 90^. Відлік кута повертання виконується за шкалою 24. За відсутності аналізатора паз закривається затулкою 26. 94 Револьвер 28 з об'єктивами для роботи в світлому полі встановлюється в напрямні тубуса. Для роботи в темному полі його міняють на окремий об'єктив, а ручкою 25 виводять пластинку 14 за межі променя. Бінокулярна насадка 22 з окулярами кріпиться на тубусі гвинтом 23, а освітлювач 41 гвинтом 20. Лампа розжарювання в патроні 39 центрується гвинтами 40. її живлення забезпечується від мережі змінного струму напругою 220 В через блок живлення. У висувній планці 3Q кріпиться ірисова діафрагма 7 і діафрагма 8 темного поля. У паз 21 вставляється світлофільтр або поляризатор. У комплекті мікроскопа є компенсаційні окуляри зі збільшенням 6,3^ 10"", 12,5"" і 16"", об'єктиви для роботи в світлому полі малого збільшення F = 25 (фокусна відстань, мм) і А = 0,25 (числова апертура), середнього збільшення F = \6, А = 0,30, великого збільшення F = 6,3, А = 0,65 та два об'єктиви для роботи в темному полі F =25, А = 0,\1 \ F = 6,3, А = 0,60. Комбінацією цих окулярів і об'єктивів можна забезпечити збільшення мікроскопа в межах від 50 до 507 разів. 2.7.2,4, Виготовлення мікроіиліфів Об'єктом мікроскопічних досліджень є мікрошліф зразок з відповідно приготованою поверхнею для дослідження. Виготовлення мікрошліфа складається з таких операцій, як вирізування зразка з досліджуваного матеріалу чи виробу, шліфування, полірування й травлення поверхні. Вирізування й закріплення зразків. Вибір місця вирізування зразка диктується метою металографічного дослідження. Так, якщо необхідно визначити природу дефекту в металі, потрібно вирізати зразок у такий спосіб, щоб цей дефект виходив на його поверхню. Для дослідження структури зразок потрібно вирізати з такого місця, в якому якнайдокладніше представлена структура усього виробу. Якщо ж матеріал за структурою неоднорідний, то вирізають декілька зразків з ділянок, що відрізняються структурою. Так, зі здеформованого металу бажано вирізати два зразки, поверхні яких були б орієнтовані вздовж і впоперек напрямку деформування. Зразки вирізають різноманітними способами: різанням ножівкою, точінням, фрезеруванням, електроерозійним чи електрохімічним обробленням. Для чорнового вирівнювання поверхні застосовується обпилювання напилком чи шліфування на верстаті з інтенсивним охолодженням. Режими вирізання й чорнового шліфування не повинні змінювати структуру матеріалу внаслідок наклепу чи нагрівання. Зручною є циліндрична або призматична форма зразка з лінійними розмірами 10...ЗО мм. Для забезпечення чіткого нерозмитого зображення приповерхневої структури мікрошліфів поверхня їх країв повинна бути такою ж плоскою, як і поверхня центральних ділянок. Тому перед шліфуванням зразки оптимальних розмірів, особливо дрібні зразки (дріт, тонкі стрічки тощо) закріпляють у струбцинах, затискаючи гвинтами між двома пластинами, або заливають в порожнистих оправках найчастіше акриловими чи епоксидними смолами так, щоб поверхня мікрошліфа була на одному рівні з поверхнею смоли і краєм оправки. 95
rss
Карта
 






Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 212 213 214

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу


каталог книг
Расчеты тепловых процессов при сварке
Сборка и сварка корпусов судов
Технологія конструкційних матеріалів і матеріалознавство: Практикум: Навч.посібник
Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками
Металловедение пайки
Теорія зварювальних процесів. Дослідження фізико-хімічних і металургійних процесів та здатності металів до зварювання

rss
Карта