Ультразвуковая дефектоскопия: Справ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 192 193 194 195 196 197 198... 275 276 277
|
|
|
|
8.7. Контроль аустенитных сталей и биметаллических соединений Основные проблемы, которые возникают при контроле аустенитных сварных швов, заключаются в следующем. В процессе УЗ-контроля на той же чувствительности, на которой проводился контроль сварных соединений перлитных сталей, фиксируется много ложных сигналов, отношение полезный сигнал — помеха близко к единице или меньше ее, затухание ультразвука велико и, как правило, превышает 0,3 дБ/мм. В ряде случаев контроль оказывается невозможным из-за того, что УЗ-колебания, сильно затухая, не проникают в металл шва. Основными факторами, влияющими на прохождение и рассеяние УЗ-колебаний в аустенитном сварном шве, являются величина зерна (точнее размеры кристаллитов аустенита), направленность роста кристаллитов аусте-нита, содержание феррита и распределение его по сечению шва, содержание карбидов и их распределение, ин-терметаллиды, микрорыхлоты и микротрещины, величина зерна в околошовной зоне (зоне термического влияния). Для дефектоскопии аустенитных сварных швов могут быть рекомендованы способы контроля, приведенные в табл. 8.4. Универсальным является многочастотный способ. Однако для его реализации требуется специальная аппаратура. Продольными волнами целесообразно контролировать толщины более 40 мм, поскольку использование этих волн на меньших толщинах осложняется присутствием на экране дефектоскопа дополнительных сигналов, связанных с отражением поперечных волн. Толщины до 10 мм могут успешно контролироваться фокусированными или РС-преобразователями. Сварные биметаллические соединения контролируют предпочтительно со стороны основного слоя. Эталонирование чувствительности производят по испытательным образцам, представляющим собой образцы контролируемого соединения. Вид и место расположения отражателя выбирают в зависимости от схем 7*195
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 192 193 194 195 196 197 198... 275 276 277
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
