Ультразвуковая дефектоскопия: Справ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 141 142 143 144 145 146 147... 275 276 277
|
|
|
|
исследовании спектра эхо-сигналов, отраженных от дефектов различного типа при изменении частоты УЗК. Принятые при таком прозвучивании эхо-сигналы изображаются на экране спектрального анализатора в виде отдельных импульсов, высота которых пропорциональна амплитуде эхо-сигнала, а пололение на развертке — частоте. У объемных дефектов спектр имеет монотоиньи! а ВО дБ •f: i.5 МГц 7.5 f i5 МГц 7,5 Рис. 6.14. Амплитудные спектры УЗ-волн, отраженных от объемных (а) и плоскостных (б) дефектов. характер, а у плоскостных — гребенчатый с периодически следующими максимумами и минимумами (рис. 6.14). Ряд практических задач в ультразвуковой дефектоскопии эффективно рещается с помощью волн дифракции. Например, используя дифрагированные волны (краевые или обежавшие), показанные на рис. 6.15, можно одновременно определить высоту дефекта (пропорционально времени Ы), а также параметры дефекта (по соотношению амплитуд А\ и Лг). На рис. 6.16, а показана зависимость отношения двух вышеназванных сигналов от коэффициента формы дефекта Q = b/{21). Дефект представлен в виде эллиптического бесконечного цилиндра, как это принято в теории прочности. Здесь b и / — соответственно малая и большая оси эллипса. Большие значения отношения амплитуд сигналов свидетельствуют о преобладании зеркально от 144
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 141 142 143 144 145 146 147... 275 276 277
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
