Ультразвуковая дефектоскопия: Справ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 119 120 121 122 123 124 125... 275 276 277
|
|
|
|
тель выполняют на верхней поверхности образца. При контроле по слоям сварных швов толщиной более 30 мм отражатель следует располагать обычно иа глубине нижней границы соответствующего слоя. Такая система эталонирования наиболее проста, поэтому нашла широкое распространение. Но надо всегда иметь в виду, что чувствительность дефектоскопа по сечению сварного шва будет уменьшаться с изменением глубины. Так, например, если контролируют шов толщиной 30 мм и эталонируют по нижней зарубке, то чувствительность на глубинах 10 мм (верхний слой шва) и 30 мм (нижний слой) отличается почти на 14 дБ, причем в нижней части шва чувствительность меньше. Несмотря на столь значительную разницу в чувствительности, перебраковка обычно невелика. Это связано с благоприятной для УЗ-контроля статистикой расположения дефектов. Например, при контроле шва односторонней сварки наиболее опасные тренцшоподобные дефекты находятся в корне шва и являются хорошими отражателями УЗК. В верхней части шва обычно имеются поры — плохие отражатели УЗК. Но здесь предельная чувствительность при эталонировании по нижнему отражателю наименьшая, поэтому выявляемость дефектов почти одинаковая. Необходимость наличия шва в тест-обра з-це зависит от разницы в затухании УЗК между основным металлом и металлом шва, а также от ширины валика усиления шва. Для соединений толщиной до 30 мм, сваренных в один проход, разница в затухании обычно мала. Для соединений более 30 мм разница может быть значительной (из-за многослойности), и се следует учитывать. Если разница в затухании велика, то тест-образец следует изготавливать со швом. При этом нужно обеспечить его бездефектность. Валик шва может ограничивать передвижение преобразователя вперед при сканировании. Для зарубки у корня шва слишком широкий валик может приводить к эталонированию не по центральному, а по боковому лучу диаграммы направленности. Отсюда появляется искажение фактической чувствительности. 122
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 119 120 121 122 123 124 125... 275 276 277
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
