Материаловедение

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Материаловедение

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .

Страницы: 1 2 3... 6 7 8 9 10 11 12... 382 383 384

	 Строение и свойства материалов 9 ются упорядоченным расположением в пространстве элементарных частиц, из которых они составлены (ионов, атомов, молекул). Свойства кристаллов зависят от элек­тронного строения атомов и характера взаимодействия их в кристалле; от про­странственного расположения элемен­тарных частиц; химического состава, размера и формы кристаллов. Все эти детали строения кристаллов описывает понятие «структура». В зависимости от размеров струк­турных составляющих и применяемых методов их выявления используют сле­дующие понятия: тонкая структура, ми­кро- и макроструктура. Тонкая структура описывает располо­жение элементарных частиц в кристал­ле и электронов в атоме. Изучается ди­фракционными методами (рентгеногра­фия, электронография, нейтронография). Анализируя дифракционную картину, получаемую при взаимодействии ато­мов кристалла с короткими волнами (к=10~10+ Ю-12 м) рентгеновских лу­чей (или волн электронов, нейтронов), можно получить обширную информа­цию о строении кристаллов. Большинство материалов состоит из мелких кристалликов (зерен). Наблю­дать такие мелкие структурные соста­вляющие -микростру ктуру возможно с помощью оптического (размером до 10~7 м) или электронного (размером до 2-Ю~10 м) микроскопа. Микроскопические методы дают воз­можность определить размеры и форму кристаллов, наличие различных по своей природе кристаллов, их распреде­ление и относительные объемные коли­чества, форму инородных включений и микропустот, ориентирование кри­сталлов, наличие специальных кристал­лографических признаков (двойникова-ние, линии скольжения и др.). Это далеко не полное перечисление характе­ризует обширность тех сведений, ко­торые можно получить при помощи микроскопа. Изучая строение кристаллов невоору­женным глазом или при небольших уве­личениях с помощью лупы-лшкро-структуру, можно выявить характер излома, усадочные раковины, поры, вы­явить размеры и форму крупных кри­сталлов. Используя специально приго­товленные образцы (шлифованные и травленые), обнаруживают трещины, химическую неоднородность, волокни­стость. Исследование макроструктуры, не­смотря на свою простоту, является очень ценным методом изучения мате­риалов. 1.1. Элементы кристаллографии Кристаллическая решетка. В кристалле эле­ментарные частицы (ионы, атомы, моле­кулы), из которых построен кристалл, сбли­жены до соприкосновения и располагаются различно, но закономерно по разным напра­влениям (рис. 1.3, а). Для упрощения про­странственное изображение заменяют схема­ми (рис. 1.3,6), отмечая точками центры тяжести частиц. Если в кристалле провести три направле­ния х, у, г, не лежащих в одной плоскости, то расстояния между частицами, расположенны­ми по этим направлениям, в общем случае неодинаковы и соответственно равны о, Ь, с. Плоскости, параллельные координатным плоскостям, находящиеся на расстоянии а, Ь, с друг от друга, разбивают кристалл на множество параллелепипедов, равных и па­раллельно ориентированных. Наименьший параллелепипед называют элементарной ячейкой. Последовательное перемещение его а) Б) Рис. 1.3. Расположение элементарных частиц в кристалле: а — пространственное изображение; б — схема rss Карта

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу