Азотирование и карбонитрирование

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Азотирование и карбонитрирование

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .

Страницы: 1 2 3... 132 133 134 135 136 137 138 139

	результатов с помощью комбинации приборов РЭМ-волнодисперсион-ный рентгеновский спектрометр заставляет задуматься, нельзя ли в обычных лабораторных исследованиях ограничиться системой РЭМ. 4.3.3. Просвечивающий электронный микроскоп В отличие от РЭМ просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) работает по принципу оптического микроскопа. Он является как бы продолжением оптического микроскопа с точки зрения разрешающей способности. Увеличение ПЭМ может достигать 800000 раз. Подготовка образцов для ПЭМ очень трудоемка, так как для просве­чивания образца его толщина должна составлять несколько микромет­ров. ПЭМ применяется для исследования структуры и морфологии микрообластей азотированного слоя. При очень большом увеличении становятся видимыми процессы упрочнения, например взаимодействие дислокаций с нитридными выделениями. В виде дополнительной информации можно получить картину диф­ракции электронов на кристаллической решетке. Это осуществляется простым переключением режима работы микроскопа. Электронная дифракция позволяет получить информацию о кристаллической структу­ре фаз, участвующих в образовании азотированного слоя, и проводить кристаллографические исследования, например определять ориенти­ровку отдельных фаз. ,, . 70 60 ( i; ! ?в, град. Рис 190. Дифрактограммы азотированных слоев Принципиально метод основан на дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Метод позволяет однозначно идентифициро­вать отдельные нитридные фазы. Сравнивая интенсивности пиков отражений, можно определить долю каждой фазы (например, F^N, Fe4N) в слое соединений. На рис. 190 показана дифрактограмма азотированного слоя. По отношению интенсивностей отражений нитридов исследуемого и эталонного образцов можно определить толщину слоя соединений. Глубина проникновения рентгеновского излучения в исследуемые металлические материалы зависит от длины волны и может составлять до 20 мкм. 4.3.5. Оже-электронная спектроскопия Принцип действия Оже-электронной спектроскопии (ОЭС) основан на том, что атомы образца, возбужденные электронным лучом, испускают рентгеновское излучение, вторичные электроны и Оже-электроны (рис.191). Информация, которую несут Оже-электроны, позволяет установить точный химический состав поверхности на глубину ~ 10 А (рис. 192). Путем послойного стравливания поверхности пучком ионов и после­дующего анализа можно построить концентрационный профиль по глубине слоя. 4.3.3. Рентгеновский фазовый анализ Рентгеновский дифрактометрический метод является неразрушаю-щим методом анализа и служит для исследования структуры азотиро­ванных слоев и толщины слоя соединений (рис. 189). В связи с тем, что аппаратура для этого метода достаточно дорога, а применение его предпола-пп гает знание оператором фи- ^ зики твердого тела, рент- геновский дифрактометри­ческий анализ применяется почти исключительно в ис­следовательских лаборато----^ риях[3-12,45]. Рис. 189. Принципиальная схема дифракции рентгеновских лу­чей (метод Дебая - Шерера) [45] 268 269 rss Карта

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу