Новые материалы






Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Новые материалы

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .



Страницы: 1 2 3... 85 86 87 88 89 90 91... 734 735 736
 

НОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ
заряда — кристаллоинженерии. Уже сегодня кристаллоинженерия актив­но вмешивается в конструирование на атомном уровне совершенно но­вых приборных композиций. В ближайшем будущем следует ожидать резкого прогресса в создании новых поколений приборов полупроводни­ковой электроники, в основе работы которых будут лежать разнообраз­ные квантоворазмерные эффекты в разнообразных квантоворазмерных композициях. Например, уже активно обсуждаются возможности созда­ния квантовых интегральных схем, основными элементами которых дол­жны стать квантовые точки, квантовые проводники, квантовые ямы, транзисторные структуры на основе квантоворазмерных эффектов и ус­тройств с управляемой интерференцией электронов [25].
Наряду с рассмотрением общих вопросов целесообразно кратко оста­новиться на конкретном положении дел в области эпитаксиальных тех­нологий на примере кремния и наиболее важных полупроводниковых соединений.
Кремниевые эпитаксиальные структуры
Кремниевые эпитаксиальные структуры являются серьезной альтерна­тивой полированным пластинам при изготовлении УСБИС уже хотя бы потому, что в эпитаксиальных слоях (в силу специфики условий их по­лучения) практически полностью отсутствуют описанные выше ростовые микродефекты. Но основной причиной существенного усиления внима­ния к эпитаксиальным технологиям является переход микроэлектроники на субмикронный, а в ближайшем будущем и на нанометровый уровень при формировании приборных структур, а также реальные перспективы создания сверхбыстродействующих УСБИС на основе эпитаксиальных гетероструктур в системе Si — твердые растворы SiGe.
Основной тенденцией в развитии технологии традиционной кремни­евой газофазовой эпитаксии становится дальнейшее существенное сни­жение рабочих температур. Успех в освоении низкотемпературных ме­тодов газофазовой эпитаксии во многом определяется достижениями в повышении стерильности технологического процесса, в первую очередь за счет создания вакуумплотного оборудования, обеспечивающего воз­можность устойчивой работы при пониженных давлениях в рабочем реакторе, и широкого использования радиационного обогрева. Важную роль играет переход к использованию новых, более легкодиссоциирую-щих газообразных источников кремния особой чистоты (SiH4, Si2H6, SiH2Cl2, SiH2F2), а также применение нетермических (оптических, плаз­менных, электромагнитных и т. д.) методов стимуляции эпитаксиальных
88
rss
Карта
 






Страницы: 1 2 3... 85 86 87 88 89 90 91... 734 735 736

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу


Сварка на контактных машинах
Краткий справочник технолога-термиста
Спутник термиста
Новые материалы
Твердые сплавы
Цементация стали
Зварювальні матеріали

rss
Карта