Новые материалы
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 639 640 641 642 643 644 645... 734 735 736
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Проведенные исследования
показали, что оптимальное сочетание технологических и
эксплуатационных характеристик наблюдается у композиции №11 (см.
табл. 9.11), именуемой далее «состав 2». Ее высокие показатели дают
возможность использовать этот сухой пленочный фоторезист для
получения термостойких защитных рельефов при изготовлении микросхем и
плат печатного монтажа.
Как отмечено выше, роль
структурирующего агента в защитном покрытии выполняет полиимид. В
связи с этим очевидно, что изменение строения исходной полиамидокислоты
скажется на свойствах конечного продукта. В этой связи представилось
интересным в качестве основы для метакрилирования использовать продукт из
3,3', 4,4'-тетрааминодифени-локсида и диангидрида 3,3',
4,4'-дифенилоксидтетракарбоновой кислоты: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
В отличие от исследованных ранее
полиамидокислот, в данном случае ненасыщенные группы являются не
только концевыми, но и содержатся в звене полимера.
Испытания показали, что высокая
степень структурирования полимера способствует повышению разрешающей
способности фоторезистов. В этом случае, при использовании полимера с
молекулярной массой 8000 в сочетании с бинарной смесью мономеров ТТМ-3 :
МЭО, взятой в |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 639 640 641 642 643 644 645... 734 735 736
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |