Новые материалы
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 501 502 503 504 505 506 507... 734 735 736
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
тической электронной
микроскопии», объединяющей уникальные возможности ПЭМ высокого
разрешения и химического анализа (рентгеновской энерго-дисперсионной
спектроскопии и спектроскопии энергетических потерь электронов) с
локальностью до 1 нм. Исследование структуры границ раздела фактически
выделилось в самостоятельное направление ПЭМ BP. Ожидается, что дальнейшие
электронно-микроскопические исследования высокого разрешения в
области инженерии поверхности приведут к новым интересным научным
результатам и технологическим разработкам. |
|
|
|
|
|
|
|
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 501 502 503 504 505 506 507... 734 735 736
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
|
|
|
