Новые материалы

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Новые материалы

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .

Страницы: 1 2 3... 498 499 500 501 502 503 504... 734 735 736

	 7. ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ПОКРЫТИЯ Вебера) и рост слоя. В после­днем механизме часто выделяют две моды: двухмерный рост слоя (механизм Франка и Ван-дер-Мерве) и рост тонкого слоя с последующим появлением на нем трехмерных зародышей (ме­ханизм Странского-Крастанова). В частности, имеются данные о росте пленок ниобата лития по механизму Фольмера-Вебера и Странского-Крастанова. В пос­леднем случае толщина началь­ного слоя составляла всего 1 нм. Также стоит отметить, что во многих работах отмечалось от­сутствие промежуточного слоя на границе раздела LiNbO,/Al203. Морфология поверхности под­ложки является очень важной характеристикой с точки зрения механизма роста пленок [14]. Из эксперимента, описанного выше, следует, что зарождение кристал­литов происходило на плоских террасах нановыступов, располо­женных на поверхности сапфи­ра, и кристаллическая фаза пол­ностью покрывала поверхность этих выступов, однако рост кри­сталлов за боковые грани ступе­нек не распространялся. Отсюда можно заключить, что роста рав­номерного тонкого слоя (меха­низм Странского-Крастанова) на начальном этапе процесса не происходило. Пространство меж­ду выступами, как правило, за­полнялось аморфной фазой. Так Рис. 7.8. Электронно-микроскопическое изображение высокого разрешения (попе­речное сечение), показывающее кристал­лографию sp2 —> ^-превращения. Плоско­сти двойникования fIH}£.„BN параллельны базисным плоскостям .^-связанного BN. Направление падающего электронного пучка совпадает с_ направлением [H0]Si//<lll>c.BN // [2ll01r.BN [3] 501 rss Карта

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу