Новые материалы
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 493 494 495 496 497 498 499... 734 735 736
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
но получить практически идеальное
2/)-изображение и моделировать структуру с помощью компьютера. К
сожалению, это довольно редкий случай и исследователь вынужден
довольствоваться тем, что электронный луч параллелен оси зоны с
низкими индексами только одного из смежных зерен; в этом случае в соседнем
зерне может наблюдаться лишь полосчатый контраст от проекции атомных
плоскостей на плоскость изображения.
Повышенный интерес к строению
границ раздела в наноструктурных тонких пленках связан с тем, что
значительное количество атомов расположено на границах зерен. В этой
связи Глейтером с сотрудниками было высказано предположение о возможности
существования нового состояния вещества. На основе расчетов, выполненных с
помощью методов молекулярной динамики, было показано, что
микроструктура низкоразмерных материалов состоит из кристаллических
зерен и аморфных межзеренных прослоек однородной толщины. Отсюда авторы
пришли к заключению, что нанокристаллические материалы со случайной
ориентировкой зерен содержат только высокоэнергетические границы
раздела. В противоположность этому утверждению, ряд авторов полагает, что
границы раздела не являются неупорядоченными. Недавно Вепрек [11]
предложил теоретическую концепцию создания сверхтвердых покрытий, в
которой нанокристаллиты размером менее 10 нм окружены тонким слоем
аморфной фазы толщиной менее 1 нм. В дальнейшем авторы представили
экспериментальные подтверждения своей идеализированной теоретической
модели. В противоположность этим результатам было показано, что
границы раздела в пленках Ti-Si—C-N имеют как упорядоченные, так и
неупорядоченные участки [8, 12]. В частности, на некоторых границах
раздела отмечено хорошее сопряжение атомных плоскостей соседних зерен и
отсутствие дислокаций несоответствия.
Аналогичный результат был получен
и в пленках Ti—А1—В—N. Для того чтобы получить качественное изображение
структуры границы раздела, необходимо, чтобы смежные нанокристаллиты
имели относительно крупный размер, сопоставимый с толщиной исследуемого
участка материала (фольги). На рис. 7.5 показаны два кристаллита TiN
со средним диаметром 6 нм. Правое зерно ориентировано близко к оси зоны
[001], и наблюдаемый полосчатый контраст в обоих зернах образован
плоскостями {100}. Дополнительных межзеренных выделений или прослоек
аморфной фазы по границе зерен обнаружено не было, хотя контраст
изображения в правой части микрофотографии свидетельствует о наличии
неупорядоченной структуры. Это согласуется с ранее
полученными |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 493 494 495 496 497 498 499... 734 735 736
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
