Ультразвуковая сварка пластмасс и металлов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 38 39 40 41 42 43 44... 219 220 221
|
|
|
|
зависимости твердости от размера отпечатка. Так, например, графическое дифференцирование ветви нагружения на рис. 1.17, б при равном 0,5 и 3 мкм, дает значения к = 1,65 и 1,83, что свидетельствует о существенном увеличении степени деформационного упрочнения с уменьшением глубины деформированного слоя. Графическое дифференцирование ветви нагружения в парах Си—АМц, Т\—АМц показывает такую же тенденцию и полное совпадение с закономерностями уп 6) 40 20 АЬ 40 80 мкм в) с,г 0,75 0,55 0,25 0 а) т,к 673 573 473 373 — р Л /! і j Г Ї и 40 во о 1 г 3tcg,c Си 120мкм Рис. 1.19. Типовой термоцикл в зоне сварки Си—А1 (а); зависимость концентрации алюминия (массовые доли) в меди (б) и меди в алюминии (в) от расстояния границы раздела при термоцикле а рочнения, оцененными по параметрам Hhl/Hh2; интенсивности нарастания кривых HV = / (Н) при уменьшении h и др. Варьируя параметрами ультразвукового поля, можно получить уплотнение структуры в зоне сварки. Определение коэффициентов диффузии в паре Си—А1 было проведено и на базе измерительных комплексов. При сварке температуру контролировали с помощью хромель — алюминиевых термопар диаметром 0,2 мм, запрессованных непосредственно в зону сварки. Запись термоциклов осуществляли на осциллографе. Типовая осциллограмма приведена на рис. 1.19. После ультразвуковой сварки образцы разрезали по зоне сварки и проводили рентгеновский микроанализ с помощью прибора МС-46 фирмы КАМЕКА. Распределение концентрации С (х) определяли по глубине диффузионной зоны в чистом металле от границы раздела. Вводились поправки на поглощение, атомный номер и флуоресценцию по программе ZAF (6—5) из стандартного математического обеспечения сканирующего микроскопа — микроанализатора КАМЕБАКС (число выводимых на печать знаков после запятой было увеличено до 5). Локальность метода составляла 0,9—1,3 мкм, а чувствительность — 0,08— 1, % от содержания элемента. 41
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 38 39 40 41 42 43 44... 219 220 221
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
