но касаться поверхности
образца, а микроскоп сфокусирован на эту поверхность. Юстировка по высоте
осуществляется гайкой 19. Необходимо добиться такого
положения, чтобы без нагрузки на поверхности шлифа из какого-нибудь
мягкого металла (например, алюминия илн олова) не появлялось отпечатка, а
при нагрузке 0,005 Н появился бы очень маленький отпечаток. Юстировку по
высоте можно проводить на эталоне с точно известной твердостью (например,
на кристалле NaCl). Поднимая илн опуская ^нагружающий механизм, необходимо
добиться получения отпечатка с такой диагональю, которая бы
соответствовала микротвердости эталона.
При измерении микротвердости
расстояние между центрами соседних отпечатков должно быть не менее
двух длин диагонали большего отпечатка. Таким же должно быть
расстояние от центра отпечатка до края образца, длина диагонали
отпечатка — не более полуторной толщины образца.
Для определения числа
микротвердости по длине диагонали при разных нагрузках Р существуют специальные таблицы и
номограммы.
Фактически метод
мнкротвердости — это разновидность метода Внккерса и отличается от него
только использованием меньших нагрузок и соответственно меньшим
размером отпечатка. Поэтому физический смысл числа микротвердостн
аналогичен HV. Для гомогенных однофазных материалов с крупным зерном
//D^HV. Часто наблюдаемые
отклонения от этого
равенства, особенно в области Р<0,05—0,1Н, объясняются в основном
большими погрешностями измерения мнкротвердости. Источники этих
погрешностей — вибрации, инструментальные ошибки в измерении длины
диагонали отпечатка, неидентичность условий ручного нагружения, искажения
структуры поверхностного слоя и Др. По мере уменьшения нагрузки все
погрешности возрастают. Поэтому не рекомендуется работать с
нагрузками, которые дают отпечатки с d<.8—9 мкм.
Использование приставок для автоматического нагружения, всемерное
устранение вибраций, тщательная отработка методики приготовления
шлифов позволяют свести ошибки в определении числа микротвердости к
минимуму.
Таблица 14
