Ультразвуковой контроль материалов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 308 309 310 311 312 313 314... 670 671 672
|
|
|
|
пульсов. В этом случае изображение будет представлять собой распределение скоростей ультразвука в рассматриваемом сечении: Третьим вариантом может быть томография отражений или эхо-импульсов. При этом вместо поглощения или времени прохождения измеряют высоту эхо-импульсов из многих направлений в данном сечении. Результирующее изображение будет представлять собой распределение отражательной способности ультразвука в рассматриваемом сечении. Разумеется, при измерениях возможно и механическое сканирование, и сканирование при помощи системы секций. Ультразвуковая томография применяется не только в медицине, но и при неразрушающем контроле (например, для измерения распределения остаточных напряжений в толстостенных изделиях [662]). Ультразвуковая томография освещается в работах [253, 663, 328, 354] и в обзорной статье Уэйда [1582] с обширным списком литературы. 13.13. УЛЬТРАЗВУКОВАЯ МИКРОСКОПИЯ, МЕТОДЫ SLAM И SAM В принципе каждый из вышеописанных способов формирования изображения может быть применен и для ультразвуковой микроскопии при выборе достаточно высокой частоты контроля. Однако до стадии практической применимости доведены только два способа, сокращенно именуемые SLAM (сканирующий лазерный акустический микроскоп) и SAM (сканирующий акусти Рис. 13.11. Блок-схема сканирующего акустического микроскопа (5А.Ч) [916]: 1— излучатель(передатчик); 2-излучающий иреобразо-натель; — суппори 4— образец; п — иода; 6 — смещение по осям X и ); 7 — приемный преобразователь; 8 — усилитель; 9 — прибор с. изображением; 10 — развертка по осям X и У о л, у hl Л, Y ческий микроскоп). Микроскоп SLAM уже был описан в разделе 13.1. Он основан на способе получения рельефного изображения. Микроскоп SAM основывается на методе пьезоэлектрического сканирования (рис. 13.11). Пьезоэлектрический преобразователь закреплен па конце цилиндра, другой конец которого является сферически вогнутым и граничит с водой. Благодаря этому звуковая волна фокусируется на небольшом расстоянии
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 308 309 310 311 312 313 314... 670 671 672
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
