Ультразвуковой контроль материалов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 290 291 292 293 294 295 296... 670 671 672
|
|
|
|
Поверхность ощупывается фокусированным лазерным лучом. Структура поверхности влияет на направление отраженного света. Угловая модуляция преобразуется при помощи диафрагмы в модуляцию интенсивности на входе в фотодетектор. Полученный таким путем электрический сигнал в конечном счете становится видимым на экране. В качестве границы раздела выбирается переход вода — прозрачная пластмасса, причем пластмассовая пластина дополнительно подвергается металлизации, чтобы повысить ее отражательную способность. . Ввиду высокой скорости процесса оптического сканирования рельефный метод работает в реальном масштабе времени. Он разработан для высоких частот (100—500 МГц) и доведен до промышленного применения (звуковой микроскоп, фирма "Со-носкан", США). Исследования в таком диапазоне частот можно называть ультразвуковой микроскопией (см. рис. 13.13). Ультразвуковые микроскопы такого типа часто называют Scanning; Laser Acoustic Microscope (SLAM)—сканирующий лазерный акустический микроскоп. Разрешающая способность по порядку величин близка к длине волны, т. е. в зависимости от частоты контроля и скорости звука в материале может доходить до нескольких микрометров. Применяют в медицине и для нераз-рушающего контроля материалов, в частности предназначенных для микроэлектроники (контроль на расслоения и пористость). Первое описание этого метода дал Кесслер [774]. Более новое описание (1980 г.) с подробным списком литературы и примерами применения имеется в работе Кесслера и Юхаса [776]. 13.2*. УЛЬТРАЗВУКОВИДЕНИЕ (КАМЕРА RCA) Этот акустический метод получения изображения основывается на интерферометрическом измерении движений тонкой мембраны, колеблющейся под действием поля ультразвуковых волн. Такая металлизированная мембрана является зеркалом в одном из плеч интерферометра Майкельсона (рис. 13.2 [1035]). Гибкая мембрана оптически сканируется системой отклонения (развертки) лазерного луча и ее отклонение в каждой точ Рис. 13.2. Ультразвуковидснне (камера RCA, схема): / — лазер; 2— фотодетектор; 3 — экран; 4— система сканирования лазерного луча-; 5 — полупроницаемое зеркало; 6 — зеркало; 7 — металлизированная мембрана; 8 — жидкость; 9 — контролируемый образец; 10 — ультразвуковой преобразователь
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 290 291 292 293 294 295 296... 670 671 672
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
|
|
|
