Ультразвуковой контроль материалов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 241 242 243 244 245 246 247... 670 671 672
|
|
|
|
ОЕНЕРЕНЕ Рис. 10.48. Выявление дефекта, расположенного вблизи поверхности, при помощи совмещенного искателя на частоте 10 МГц; справа — для плоскодонного отверстия диаметром 0,4 мм на расстоянии 1,3 мм от поверхности; титан, толщина ласта 6,3 мм: ОЕ — эхо-импульс от поверхности; ЯЕ — отражение от задней стеики; РЕ — отражение эхо-импульс) от дефекта Рис. 10.49. Соиограммы некоторых совмещенных искателей (А—В). Характеристика искателей (диск разделен пополам на излучатель и приемник; контролируемый материал — термически улучшенная сталь; затухание звука—4 дБ/м): А Б В Диаметры преобразователя, мм 21 21 11 Угол скоса призмы, град ... 735 Числа 0,5—4 —наименьшая величина эталонного дефекта, обнаруживаемого на соответствующем расстоянии (в данном случае диаметром 1 мм)
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 241 242 243 244 245 246 247... 670 671 672
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
