Ультразвуковой контроль материалов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 193 194 195 196 197 198 199... 670 671 672
|
|
|
|
При известном временном масштабе изображения и известной скорости звука (с) можно определить расстояние (с?) до отражателя по времени прохождения сигнала (£): 2й1Г=с; й=с112. Как правило, толщина контролируемого изделия известна. В таком случае аппаратура должна настраиваться изменением горизонтальной скорости развертки с таким расчетом, чтобы отражение (эхо) от задней стенки находилось бы с правого края экрана. Ввиду пропорциональности времени и пути прохождения расстояние до дефекта может быть отсчитано непосредственно в единицах длины. Если, например, при толщине материала 10 мм отражение от задней стенки настроено на 100% ширины экрана, а импульс от дефекта появился на расстоянии 60%, то отсюда следует, что расстояние до дефекта равно 0,6-10=6 мм. Амплитуда принятой звуковой мощности зависит (глава 5) весьма сложным 'образом от следующих влияющих факторов: излученной энергии; характеристики направленности излучателя; величины отражателя (дефекта); свойств поверхности отражателя; положения отражателя; величины (размеров) или характеристики направленности приемника; затухания ультразвуковой волны при поглощении или рассеянии в материале; затенения дефектами, расположенными ближе. Некоторые из этих влияющих факторов изображены на рис. 10.3. Отражение от дефекта расположено между началом временной шкалы и отражением от задней стенки на том же относительном расстоянии, что и местонахождение дефекта между передней и задней сторонами (стенками) испытываемого образца. Поэтому без специальных точных измерений времени прохождения можно сразу же видеть, имеются ли дефекты и где они находятся. Несколько дефектов могут изображаться звуковым лучом одновременно (рис. 10.3, ¿5), если один из них полностью не затеняет других. Однако небольшой дефект, находящийся за более крупным, иногда все же еще может быть выявлен благодаря дифракции звука на более близком дефекте. При затенении дефектами может даже исчезнуть отражение от задней стенки (рис. 10.3, в). По ориентировочной геометрической оценке, эхо от задней стенки должно исчезнуть, если дефект как раз полностью заполняет все поперечное сечение луча. Благодаря этому получают дополнительные данные о минимальном размере дефекта, которые особенно важны в том случае, если
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 193 194 195 196 197 198 199... 670 671 672
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
