ПОДГОТОВКА И АТТЕСТАЦИЯ СПЕЦИАЛИСТОВ СВАРОЧНОГО ПРОИЗВОДСТВА НА СООТВЕТСТВИЕ КВАЛИФИКАЦИИ «МЕЖДУНАРОДНЫЙ ИНЖЕНЕР-СВАРЩИК» (IWE)
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 576 577 578 579 580 581 582... 697 698 699
|
|
|
|
Международный инженер-сварщик (ЛУЕ) Главный учебный курс. Конспект лекций. 4. Производство сварных конструкций 4.3 Неразрушающий контроль качества материалов и сварных соединений метрической формы или сильной структурной магнитной неоднородности) проведения магнитного контроля. Методы ЦД и ЛД применяют для контроля деталей термически и механически обработанных, шлифованных, полированных, фрезерованных и не имеющих каких-либо покрытий и поверхностных загрязнений. Капиллярная дефектоскопия основана на физических явлениях капиллярности, сорбции, диффузии, цветовом и световом контрастах. Дефекты выявляют, обнаруживая жидкость, оставшуюся в их полостях после удаления ее с контролируемой поверхности. Как правило, это происходит после нанесения проявителя. Он поглощает жидкость, образуя индикаторный рисунок, а также создает фон, улучшающий видимость рисунка. Индикаторные рисунки, образующиеся при контроле, либо обладают способностью люминесцировать в ультрафиолетовых лучах (ЛД), либо имеют окраску (ЦД). Линии индикаторного рисунка имеют ширину от 0,05 до 0,3 мм и яркостный контраст 30 60% и более, а также высокий цветовой контраст. Это значительно выше соответствующих параметров поверхностных дефектов. Поэтому рисунок обнаружить легче, чем сам дефект, и тем легче, чем шире индикаторная линия и выше ее контраст с фоном. Технология контроля методом ЦД включает в себя следующие этапы: Подготовка контролируемой поверхности. Шероховатость поверхности под контроль методом ЦД зависит от класса чувствительности и для II класса должна быть не выше Р2 20 мкм по ГОСТ 2789. Зачищенная контролируемая поверхность должна быть освобождена от грязи и обезжирена. Пропитка деталей индикаторным пенетрантом с целью заполнения полостей дефектов, выходящих на контролируемую поверхность. На предварительно подготовленную контролируемую поверхность необходимо обильно нанести индикаторный пенетрант и выдержать 10-15 минут. Удаление пенетранта с поверхности рекомендуется производить протиркой бязью, смоченной в очистителе. Нанесение проявителя с целью извлечения пенетранта из полостей дефектов. Проявитель наносится мягкой кистью, распылителем или с помощью аэрозольного баллона. Сушка проявителя. Выявление дефектов и оценка качества. После нанесения проявителя осмотр контролируемой поверхности на наличие дефектов производится дважды: через 5 минут и через 20 минут. Чувствительность метода зависит от шероховатости поверхности и применяемых дефектоскопических материалов. Могут быть выявлены дефекты с минимальным раскрытием 0,0001 0,001 мм и глубиной 0,02 мм. Эксплуатационные качества материалов необходимо проверять по контрольным об 2002 год Стр. 17 Всего стр. 26
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 576 577 578 579 580 581 582... 697 698 699
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
