Сварка, резка, наплавка, пайка, нанесение покрытий. Технология, материалы, оборудование. Каталог. Весна-лето 2005
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 120 121 122 123 124 125 126... 253 254 255
|
|
|
|
ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ Предложения по сотрудничеству. •Качественное и количественное определение содержания основных легирующих и примесных элементов, включая газы, в различных материалах — рудах, концентратах, минералах, порошках, шлаках, флюсах, чугунах, сталях, сплавах на основе никеля, титана, алюминия, меди и др. •Изготовление микрошлифов, выявление и фотографирование микроструктуры, металлографический контроль качества и установление природы дефектов металлопродукции, фрактографические исследования. •Разработка методик исследования, определение и идентификация нитридных, оксидных и сульфидных включений, изучение фазового состава интерметаллидов, карбидов и других фаз в различных материалах. •Исследование структуры и фазового состава материалов методами световой и электронной микроскопии: количественной и высокотемпературной металлографии, рентгеност-руктурного и микроспектрального анализов. •Разработка методик и исследование некоторых физическихJEM-200CX свойств металлов, шлаков, покрытий методами дилатометрии, высокотемпературного дифференциального термического анализа, калориметрии, а также исследование взаимодействия в системе газ-шлак-металл при нагреве различными источниками тепловой энергии. •Обучение, стажировка, консультации инженерных и научных работников в указанных направлениях. Отдел оснащен просвечивающим электронным микроскопом JEM-200CX (фирма JEOL, Япония); растровым электронным микроскопом JSM-840 с системой анализа "Link" (фирма JEOL, Япония); фотоэлектрическим вакуумным спектрометром ДФС-51У; микрозондом для микрорентгеновского спектрального анализа SX-50 (фирма "Cameca", Франция); оптическим эмиссионным спектрометром SPECTROVAC-1000 DV-4 (фирма "Baird", Нидерланды). 113 2005
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 120 121 122 123 124 125 126... 253 254 255
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
