Технология металлов и конструкционные материалы: Учебник для машиностроительных техникумов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 6 7 8 9 10 11 12... 174 175 176
|
|
|
|
В процессе аллотропического превращения выделяется скрытая теплота кристаллизации (если превращение идет при охлаждении); на кривой охлаждения аллотропическое превращение отмечено горизонтальным участком. Аллотропические превращения имеют многие металлы, например железо, марганец, олово, титан и др. Железо известно в двух полиморфных модификациях —а и у. На рис. 1.10 приведена кривая охлаждения железа, характеризующая аллотропические превращения. При температуре 1539 С железо из жидкого состояния переходит в твердое. В результате образуется а-моднфикация (а-железо). """"имеющая кристаллическую решет Рис. 1.10. Кривая охлаждения железа КУ кубическую объемно-центрнро ваниую a-железо устойчиво до тем-IMO |""чг-пературы 1392 °С (для интервала l&jy—1ÓV¿ С о-железо нередко обозначают 6-железо). При температуре 1392 °С а (б)-железо переходит в другую модификацию — у-железо, имеющую кристаллическую решетку кубическую граие-цеитрированиую. При температуре 911 °С у-железо переходит в а-железо, и кристаллическая решетка вновь превращается в кубическую объемно-центрированную. При 768 °С происходит остановка иа кривой охлаждения, связанная не с перестройкой решетки, а с изменением магнитных свойств. Выше 768 °С о-железо немагнитно, а ниже 768 °С магнитно. § 3. Методы исследования строения металле* Макроскопический анализ выполняют без увеличения или при небольшом увеличении (до 10—30 раз) с помощью лупы. Макроструктуру можно исследовать непосредственно на поверхности металла (например, отливок, поковок), в изломе илн на макрошлифе. По излому выявляют строение металла (фрактография). В отличие от аморфного тела металлы имеют зернистый (кристаллический) излом. В большинстве случаев чем мельче зерно в изломе, тем выше механические свойства металла. По излому можно судить о размере зерна, особенностях литья и термической обработки, а также выявлять отдельные дефекты. Макрошлифом называют поверхность образца, подготовленную для исследования макроструктурыДля выявления дефектов в слитках, отливках, катаных н кованых заготовках, сварных швах применяют образцы-темплеты, вырезанные как в поперечном, так н в про Рис. 1.11. Схемы электронного микроскопа (а) и получения реплики с мнкро-шлифа (6) дольном сечениях. Поверхность темплета шлифуют и подвергают травлению кислотами илн другими реактивами, что позволяет выявить, например, дефекты, нарушающие сплошность металла (трещины, раковины и др.), неоднородность строения после обработки чавлением, строение литого металла и т. п. Микроскопический анализ применяют для определения формы и размеров зереи, изменений внутреннего строения сплава, происходящих под влиянием различных режимов обработки; выявления микропороков металла — микрот-рещни, раковин и др. Для микроанализа из исследуемого материала вырезают образец, поверхность его шлифуют, полируют и для выявления микроструктуры подвергают травлению (действию растворов кислот, солей). Подготовленную для исследования поверхность разца, называемую микрошлифом, рассматривают в металлографический микроскоп при увеличении в 50—2000 раз. По сравнению с металлографическим микроскопом гораздо большее увеличение (до 200 000 раз) дает электронный микроскоп, работающий по схеме проходящих электронных лучей. Вместо стеклянных лниз (в металлографическом микроскопе) в электронном микроскопе установлены электромагнитные линзы / (рнс. 1.11, а), преломляющие электронные лучи 2. Источником электронов служит раскаленная вольфрамовая нить 3 Для прохождения электронных лучей объект исследования должен быть тонким. Для приготовления такого объекта используют метод реплик. На микрошлиф / (рис. 1.11, б) наносят тонкий слой 2 вещества (лак, углерод, кварц и др.). Снятую с микрошлифа реплику 3 помещают в место 4 электронного микроскопа (рис. 1.11, а) Электронные лучи, проходя через реплику, дают промежуточное изображение 5 и конечное изображение 6. С по-щью электронного микроскопа изучают также строение излома Рентгеноапруктурный анализ применяют для исследования внутреннего строения кристаллов, т. е. расположения атомов в кристаллической решетке. Для этого используют рентгеновские лучи, образующиеся в рентгеновской трубке при торможении быстродвижущихся электронов иа ее аноде. Рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные колебания с очень малой длиной волны —0,2—0,0005 им (2—0,005 А). Направляя рентгеновские лучи иа исследуемый объект (кристалл) и фиксируя на фотопленке возникающие отражения от кристалло
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 6 7 8 9 10 11 12... 174 175 176
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
