Основы металлографии и пластической деформации стали

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу Основы металлографии и пластической деформации стали

Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .

Страницы: 1 2 3... 9 10 11 12 13 14 15... 237 238 239

	 Рис 1.5. Кристаллографические плоскости и направления в кубической решетке Все параллельные плоскости имеют одни и те же индексы Миллера-параллельные плоскости, расположенные на разных сторонах от нача; ла координат, будут различаться знаком индексов, например (631) и (631). Семейство эквивалентных плоскостей, имеющих одинаковые индек­сы, заключается в фигурные скобки. Например, все грани куба обо­значаются {100}. Для определения кристаллографического направления в кристал­лической решетке пользуются индексами направления, являющимися координатами точки, ближайшей к началу координат, через которую должен пройти от начала координат вектор направления. Величины ко­ординат точки приводятся к наименьшим числам, пропорциональным их первоначальным значениям. Индексы направления заключаются в квадратные скобки [и, v, w], система направлений с одинаковыми ин­дексами — в остроугольные скобки (и, v, w). В кубической системе кристаллографические направления перпен­дикулярны к соответствующим плоскостям с одинаковыми индексами, но различаются формой скобок, в которые заключены индексы. На­пример, семейство плоскостей куба обозначается {100}, а направлений <100>; совокупность октаэдрических плоскостей {111}, направлений <111>. Примеры расположения некоторых плоскостей и направлений в кубической решетке показаны на рис. 1.5. Свойства кристаллов и характер пластической деформации зависят от соотношений между направлением приложенных напряжений и кри­сталлографических плоскостей. Кристаллографические плоскости и на­правления имеют разные расстояния между атомами, т. е. на единице площади размещается неодинаковое число атомов. Их количество на единице площади представляет собой ретикулярную плот­ность. Например, в ОЦК решетке плоскости (100), (110), (111) имеют ретикулярную плотность соответственно 1/а2, 21а2 V2, 1/а2 1/3. Плот­ность упаковки атомов на кристаллографической плоскости определя­ет уровень поверхностной энергии. Чем меньше плотность упаковки (ретикулярная плотность), тем больше поверхностная энергия. Физические и химические свойства металлов зависят от плотности упаковки атомов. В металлах проявляется анизотропия свойств, т. е. они обладают неодинаковыми свойствами в различных кристаллогра­фических направлениях. Например, модуль упругости кристалла же­леза в направлениях (100), (ПО) и (111) равен соответственно 11 rss Карта

Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу