[362, 390]. Микронапряжения вследствие их локализации в весьма малых объемах, соизмеримых с объемами зарождения разрушения, могут оказывать значительное влияние на механизм инициирования разрушения в местах острых концентраторов напряжений и т. д.

Одной из причин, вызывающих создание в металле напряжений II рода, является пластическая деформация, связанная с технологией получения металлических заготовок или изделий. В сварных соединениях металлоконструкций напряжения II рода могут быть дополнительно связаны с проведением операций снятия сварочных остаточных напряжений деформационными способами (прокатка, гидроопрессовка, взрыв и т. д.). Напряжения II рода играют важную роль на начальной стадии водородного разрушения сварных соединений трубопроводов, предназначенных для транспортировки природного газа, содержащего влажный сероводород. С учетом этого проведены специальные исследования влияния обработки взрывом кольцевых швов труб наружными зарядами ВВ по схеме, приведенной на рис. 5.88, на напряженность II рода в районе кольцевого шва [475].

Исследования выполнены на темплетах, вырезанных механическим способом из труб диаметром 168 мм и толщиной стенки 14 мм, со сварным кольцевым швом, выполненным ручной сваркой. Материал трубы — сталь 20. Обработка взрывом шва производилась по двум режимам, отличавшимся интенсивностью импульса, сообщаемого стенке трубы. По данным тензометрии, эти режимы обеспечивали снижение тангенциальных остаточных напряжений I рода в шве на 85 % (режим А) и 70 % (режим Б).

Для оценки уровня и особенностей распределения по объему искажений кристаллической решетки металла исследованных труб производили запись дифракционных кривых от разных участков поверхности трубы, а также от поверхностей, параллельных ей, после удаления слоев металла сначала механическим, а затем химическим способом. Записывали кривые интенсивности дифракционных линий (НО) и (220) в излучении КдСо, которое облучало поверхность образца размером около 1x10 мм. Запись производили на рентгеновской установке ДРОН-1 при неподвижном образце. Необходимые для расчета размеров блоков когерентного рассеяния и напряжений II рода эталонные кривые записывали от аналогичных образцов, отожженных при 650 °С в течение 1 ч (режим, применяемый для снятия сварочных остаточных напряжений I рода). Производилась поправка кривых интенсивности на дублетность излучения рентгеновской трубки.

Расчет искажения кристаллической решетки Да/а, характеризующей напряжения II рода, и размер блоков когерентного рассеяния производили методом гармонического анализа кривых интенсивности рентгеновских дифракционных линий [476]. Необходимые вычисления производили на ЭВМ по специально разработанной программе. При исследованиях распределения напряжений II рода в объеме металла была использована качественная оценка искажения Да/а по ширине рентгеновской дифракционной линии. Интегральную ширину линии определяли делением площади, ограниченной кривой, на максимальное значение ин-