Поверхностные слои кристалла могут также служить и некоторым барьером, затрудняющим выход дислокаций на его поверхность. Кроме собственного барьерного эффекта поверхности, связанного с увеличением поверхностной энергии при выходе дислокаций из кристаллов и образованием ступенек, и барьерного эффекта Крамера, обусловленного образованием в приповерхностных слоях некоторого градиента плотности дислокаций (с/еЬга-слой), может проявляться и барьерное действие окисных и других тверцдд, Рт.а&Л'^," покрытий. Такой барьерный эффект окйсного или углеродного покрытия наблюдайся часто непосредственно на флуоресцирующем экране электронного микроскопа в виде специфических "треков", которые образуются при движении и взаимодействии винтовых компонент дислокационной петли с более твердой поверхностной пленкой (рис. 36, а). Кроме того, сам факт движения дислокаций в тонкой пленке подтверждает обоснованность применения различных методов стабилизации дислокационной структуры в электронномикроскопических объектах с целью подавления процессов релаксации и устранения различия в дислокационных структурах тонких темплетов и реальных массивных образцов. Близость свободной поверхности, а также присутствие примесных атомов, диффундирующих из алюминиевого сплава в сталь, могут также существенно снизить величину энергии дефекта упаковки материала. Поэтому наблюдавшееся довольно часто и в большом количестве расщепление дислокаций (рис. 36, в, г) можно объяснить не только низкой энергией дефектов упаковки в стали 12Х18Н9Т (хотя это и является основной причной расщепления в данном случае), но и возможным дополнительным влиянием указанных факторов. Кроме того, низкая энергия дефектов упаковки может быть ответственна также за образование плоских дислокационных скоплений, которые наблюдались в данном случае в нержавеющей стали (рис. 36, б), в то время как известно, что они встречаются крайне редко в других г.ц.к. металлах. Обычно это является основным противоречием и несоответствием между экспериментальными электрон-номикроскопическими данными и дислокационной моделью в теории деформационного упрочнения Зегера. При работе на электронном микроскопе часто встречаются клубковые дислокационные структуры, свидетельствующие о вкладе близкодействующей компоненты напряжений и контактного взаимодействия дислокаций в общем процессе деформационного упрочнения. Центрами таких клубковых образований часто являются не только собственные пересечения и переплетения дислокаций, но и карбидная фаза, вокруг которой напутываются дислокации при своем движении (рис. 36, д, е).
Карта
|
|