Справочник по сварке цветных металлов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 45 46 47 48 49 50 51... 510 511 512
|
|
|
|
при 298—1358 К ÄG?(CuO) == AG? (Cu20) = — 159753 + 90,96 Г; 175560 + 77,91 T; при 1358—1720 К при 1358—1515 К AG" (СиО) = — 167326 + 96,57 Т; ÄG° (Си20) = — 202012 + 97,45 Т. (1.2) (1.3) (1.4) (1.5) Кислород в меди находится преимущественно в виде оксида Си20, который в свою очередь образует с медью эвтектику с температурой плавления 1065°С, т. е. ниже температуры плавления самой меди (рис. 1.17). Поэтому при затвердевании меди эвтектика располагается по границам кристаллитов. Последние оказываются как бы окутанными хрупким слоем. При сварке в околошовных участках ЗТВ эвтектика оплавляется, охрупчивая этим металл. Надежным способом контроля количества кислорода в меди является металлографический. На иетравленом шлифе определяют количество легко различимой под микроскопом эвтектики Процент кислорода в меди вычисляют исходя из следующих соотношений: содержание Си20 в эвтектике составляет 3,4 %, а содержание кислорода — 0,39 %. Например, при наличии в исследуемом образце меди 12 % эвтектики (определено по соотношению площадей шлифа, занятых эвтектикой, и общей) количество Си20 равно 0,12 X 0,034 X 100 = 0,4 %. Концентрация же кислорода в меди 0,1? X 0,039 X 100 = 0 05 %. По содержанию кислорода такая медь соо!ветствует марке М1 (см. габл.1.9). При кристаллизации значительно окисленной меди наряду с образованием эвтектики Си — Си20 может выпадать фаза Си20, которая легко восстанавливается газами, растворенными в меди: Cu20 + 2Н ^ Н20 + 2Си; Cu,0 + СО С02 + 2Си. (1.6) (1.7) т;с 1200 1100 —,—,— [Жидкость —\2жидких слоя [ \1200' f-Xudmcmö+Cu20 \; f; v 400 200 \ -Жидкость \12$0°С Жиджть +0: /OOS"1 / Жидкость+0и20 Си*Сиг0 375° /4 V1075' 'Жидкость* \+Си0 са CüiO+CuO 0 2,5 5 7,5 10 12,5 15 17,5 200г,°/. а Рис. 1.17. Диаграмма состояния системы Си—Ог. а — общий вид; б — верхний левый угол (144].
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 45 46 47 48 49 50 51... 510 511 512
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
