Материаловедение: Учеб. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 151 152 153
|
|
|
|
результате эти участки поверхности станут углублениями и свет, падая на них, будет рассеиваться. В поле зрения микроскопа они будут казаться темными, а тело зерна светлым. В ряде случаев для изготовления шлифов используют электрохимическую полировку и травление, что позволяет существенно сократить время на подготовку образца. Различают макроструктуру и микроструктуру материала. Макроструктуру исследуют на специальных макрошлифах (темплетах) невооруженным взглядом или при небольшом увеличении в 30 40 раз. При этом выявляют форму и расположение зерен в литом металле, деформированные кристаллиты в металле после обработки давлением, различные дефекты, нарушающие сплошность металла и химическую неоднородность, возникшую при кристаллизации или в результате термической или химико-термической обработки. Макроструктуру изучают на микрошлифах. При этом выявляют размер и форму зерен и фаз. Микроструктуру наблюдают в оптическом или электронном микроскопе. Разрешающая способность* оптического микроскопа не превышает 0,2 мкм. Полезное увеличение в оптическом микроскопе составляет примерно 2000 2200 крат. Применение больших увеличений не оправдано, так как более мелкие детали структуры не становятся видимыми, поскольку разрешающая способность не меняется. Разрешающая способность электронных микроскопов существенно выше оптических до 0,2 нм. Методы электронной микроскопии основаны на взаимодействии электронов с твердым телом. Наиболее широко распространены методы просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) и растровой электронной микроскопии (РЭМ). При методе ПЭМ поток электронов проходит через изучаемый объект, представляющий тонкую фольгу. Получаемое изображение является результатом упругого рассеяния электронов в поле электрического потенциала атомов. Это метод позволяет изучать субструктуру металла и дает возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. * Разрешающая способность минимальная различимая величина объекта. http://www.svarka-lib.com 49
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 151 152 153
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
