Сплавы с эффектом памяти формы
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 53 54 55 56 57 58 59... 216 217 218
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
элементарная ячейка
мартенситной фазы является моноклинной. В настоящее время стандартной
структурой мартенситной фазы считают моноклинную ячейку с параметрами а
= 0,2889 нм, b = 0,412 нм, с = = 0,4622 нм, 0 = 96,8° [1] в сплаве
Ti - 49,75% (ат.) Ni.
Модель этой структуры
показана на рис. 2.1. Она показывает, каким образом орторомбическая
слоистая структура типа N2H становится
искаженной моноклинной структурой. Моноклинные искажения решетки в этом
случае отличаются от искажений кристаллической структуры мартенситной фазы
в сплавах Си—Zn. Направление однородного сдвига, в результате которого
орторомбическая решетка деформируется в моноклинную, не является
параллельным направлению перетасовки базисных плоскостей, а ортогонально
ему. С помощью этой модели можно достаточно хорошо объяснить
результаты исследований методом электронной микродифракции. Недостаток
модели состоит в том, что с ее помощью невозможно объяснить существование
отражения 001, четко обнаруживаемого на рентгенограммах. Ооцука [1]
принял, что период решетки 0,4622 нм соответствует оси с
мартенситной фазы. Основанием для этого явилось обнаружение
интенсивного рефлекса в направлении оси с на картине микродифракции
электронов. Кроме того, и на изображении, полученном с помощью ПЭМ,
наблюдается большое число тяжей в направлении, перпендикулярном оси
с,
что подтверждает сделанный вывод. В этом случае наблюдаемая картина
объясняется существованием дефектов упаковки в базисной
плоскости.
Сендрок [2] принял за
плоскость и направление, в которых происходит перетасовка,
соответственно (010) и [001]. В этой модели отражение 001 имеет
ограниченную интенсивность. Однако структурный фактор для отражения
001, которое имеет даже на дифрактограммах сравнительно высокую
интенсивность, становится равным нулю. Ватанайон и Хегеман [3], приняв,
что перетасовка базисных плоскостей описывается как (010), сравнили
интенсивность линий на картинах рентгеновской дифракции. Они
установили, что направление и величина вектора трансляции соответствуют
1/16 [102].
Позже Ми хал [4] повторно
исследовал расположение атомов, используя результаты рентгеновского
дифракционного анализа порошковых рентгенограмм методом Вонга. Он
предложил сложную модель кристаллической структуры, включающую и
перетасовку базисных плоскостей. Ниже приведены данные Ооцука,
Хегемана и Михала для периодов решетки и положений атомов в
структуре: |
|
|
|
|
|
Автор.......... Хегеман Михал Ооцука
Сингония...... Моноклинная Моноклинная Моноклинная
Пространственная
группа.......... P112,/m P112,/ni Р12/с1
a. нм......... 0,2883 0,2885 0,2889
b. нм......... 0,4623 0,4622 0,4120
c. нм......... 0,4117 0,4120 0,4622
0. град.......... - _ 96,8 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 53 54 55 56 57 58 59... 216 217 218
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |