Новые сварочные источники питания: Сб. науч. тр.
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 75 76 77
|
|
|
|
2. В качестве критериев рекомендуется использовать: -коэффициент вариаций напряжения дуги Ц*, отнесенный к часто* те коротких замыканий t". При сварке без коротких замыканий f I: Cv = Ку; -коэффициент вариаций тока сварки Ку, отнесенный к частоте коротких замыканий При сварке без коротких замыканий f-= I: С¥ = К f; -коэффициент вариаций длительности действительных коротких замыканий К\; -среднее значение длительности действительных коротких эамыка МІЙ ^J*^, ML. • 3. При выборе или испытаниях источников питания по показателю стабильности процесса сварки преимущество следует отдавать тому источнику питания, у которого будут лучше приведенные выше показатели. Список литературы 1. Статистические методы измерения электрических и временных параметров сварочного контура при дуговой сварке постоянным током / И.К.Походня. В.Н.Горпенюк, В.Е.Пономарев и др. // Информ.материалы СЭВ. 1985. Вып.2. С.63-66. 2.Коротынокий А.Е., Куница И.И., ЛатанскиЙ В.П. Анализатор дуговых процессов оварки плавлением в защитных газах //Сборник материалов третьей межреспубликанской шкокы-еемияара "Научприбор-90 . -Судак, 1990. С.72. 3. Критерии оденки стабильности процесса дуговой сварки на постоянном токе / И.К.Походня. И.И.Заруба, В.Е.Пономарев и др. // Автомат.сварка. 1989. * 8. С.І-4. 4.Походня И.К., Суптель A.M., Шяепаков В.Н. Сварка порошковой проволокой. Киев: Наук.думка, 1972. 222 с. Получено 25.07.91. isbn Б-7702-0І95-9. Новые сварочные источники питания. Киев, 1992. УДК 621.791.75.037:621.791.947 И.К.Походня, В.Е.Пономарев, И.И.Заруба, А.М.аерносеков (ИЗО им.Е.О.Патона, г.Киев) МЕТОДИКА КОМПЛЕКСНОЙ ОЦЕНКИ СВАРОЧНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ИСТОЧНИКСВ ПИТАНИЯ Описана методика комплексной оценки сварочно-технологи-ческих. свойств источников питания, основанная на вычислении произведения взвешенных отношений показателей регистрируемых свойств о учетом их значимости. Общие положения Большое разнообразие типов источников питания (ИЛ), имеющихся на современном рынке, позволяет решить задачу выбора требуе И.К.Походня, В.Е.Пономарев, И.И.Заруба, А.М.Жерносеков, 1992 94 мого ИП применительно к конкретным условиям. Однако при этом неизбежны ошибки, связанные в основном с отсутствием таких общепринятых методик комплексной оценки их оварочно-технологических свойств (СТО, которые бы учитывали именно конкретные условия эксплуатации ИП. Методические подходы к разработке соответствующих методик, изложенные б /1, 2 и др.7, не удовлетворяют этому требованиях", т.н. не учитывают того факта, что в данных условиях применения каждое еварочно-технологическое свойство имеет свою значимость, которая меняется при смене этих условий. К недостаткам некоторых из этих методик можно отнести отсутствие комплексного показателя СТС, а также субъективность оценки. Этого в значительной степени лишена методика, основанная на вычислении произведения взвешенных отношений /3, 47 У"-П(I) где 3* обобщенный показатель СТС;N количество регистрируемых CTC;fзначимость каждого СТС (его весовой фактор). Отношениеjß либо вычисляется по формулам JÖ = W/W„;(2) jb=l%/M(з где Й реальное, а М„ идеальное значение количественного показателя СТС, либо определяется экспертным методом. Но в любом случае оценка каждого СТС дается по отношению к гипотетическому (идеальному) ИП, обладающему наилучшими показателями СТС /3, 4/. Из приведенных выше формул выбирают ту, при которой увеличениюJi отвечает улучшение СТС. При использовании этой методики необходимо задаться количеством оцениваемых СТС Ни их значимостью £. Сумма значимэстей всех свойств должна равняться единице. В зависимости от назначения и области применения ИЛ £ изменяется, т.к. меняются и требования к их отдельным СТС. С целью облегчения восприятия результатов количественной оценки допускается переводить получаемые значения и £ в систему качественных оценок со следующей их градацией: "отлично"^ "хорошо", "удовлетворительно" и "плохо". Оценке "отлично" соответствуют значения J5 и у, равные 0,91 и более; "хорошо" 0,71...0,90; "удовлетворительно" 0,51...0,70; "плохо" 0,50 и менее. В случае, если для одного из СТС^ имеет значение менее 0,40,, вычислять ^ по . приведямой выше формуле не рекомендуется с присвоением совокупкоо-л 21'J данного ИП оценки "плохо". При использовании настоящего ме~ ':у'**"ского подхода применительно к оценке СТС покрытых электродов^
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 46 47 48 49 50 51 52... 75 76 77
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
